【技术文章】白光干涉技术在薄膜厚度测量领域优势

近年来，随着科技的不断进步和发展，许多新技术在各个领域得到了广泛的应用。作为其中的一种，白光干涉技术在薄膜厚度测量领域中表现出了突出的优势。创视智能品牌的TS-IT50探头则是在这一领域中的杰出代表。

白光干涉技术是一种基于干涉原理的测量方法。它通过将光束分成两部分，让其中一部分经过待测物体后再与另一部分光束合并，从而通过干涉条纹的形成来测量待测物体的表面高度或者厚度。与传统的单色干涉相比，白光干涉技术具有更高的分辨率和更广的测量范围。

在薄膜厚度测量方面，白光干涉技术也有着广泛的应用。TS-IT50探头是创视智能品牌专门为薄膜厚度测量而开发的一种探头，它采用白光干涉技术，能够快速、精确地测量薄膜的厚度，并且具有非常高的重复性和稳定性。该探头的超大工作距离50±2mm，超高重复精度1nm，超高线性精度±20nm，采样频率10kHz，测厚范围1~100μm。

使用TS-IT50探头进行薄膜厚度测量非常简单。首先，将探头放置在待测物体表面上，然后打开测量软件，进行测量。在测量过程中，探头会发出白光，光线经过待测物体后形成干涉条纹，测量软件会根据干涉条纹的形态来计算出薄膜的厚度。

白光干涉技术在薄膜厚度测量领域中具有广泛的应用前景，同时也能测量超薄玻璃/湿胶/卷绕涂布/镀膜厚度等。创视智能品牌的TS-IT50探头作为该领域中的优秀代表，具有高精度、高重复性和高稳定性等优点，可以满足各种不同的薄膜厚度测量需求，为薄膜厚度测量技术的发展贡献了自己的力量。